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ABB推出用于质量控制系统的光学厚度传感器 - 传感器ABB -



ABB推出用于质量控制系统的光学厚度传感器

作为质量控制系统的领导者,ABB在爱尔兰的Dundalk推出了一款创新的光学厚度传感器。 ABB基于光学技术革命开发了这种高度精确和稳定的在线检测传感器。

准确的厚度测量和控制对纸张质量和满足客户需求至关重要。传统上,这是通过双面接触厚度传感器实现的,但是一些特殊的纸张生产对传统的接触式测量技术提出了严峻的挑战。挑战。为此,纸张生产商一直在寻求一种新的测量厚度的方法,以克服接触厚度测量的缺点。

ABB新型光学厚度传感器是一种非接触式在线测量传感器,可消除激光器使用的三角测量,避免激光穿透纸张表面造成的测量误差。新传感器采用不同的方法,大大提高了测量精度和稳定性。该传感器的应用具有优异的性能,可以满足传统厚度传感器无法满足的要求。光学厚度传感器基于共焦位移测量技术。最近,该技术促进了微观方法,薄膜研究和半导体制造的新发展。

这种新型传感器是ABB 50年在线纸张质量测量历史中的最新传感器,最终可供纸张生产商用于精确测量和厚度控制,甚至可用于要求苛刻的纸张等级。

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